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相控阵天线的副瓣电平（Side Lobe Level, SLL）是衡量其辐射方向图质量的关键指标，直接影响抗干扰能力、目...

相控阵天线的带宽受限问题源于阵列单元间的互耦效应、馈电网络损耗、移相器频率依赖性等物理机制，导致其工作带宽通常仅为中心频...

相控阵天线的成本受硬件、设计、制造、测试及系统集成五大核心因素影响，且各因素间存在复杂关联。以下从技术细节和工程实践出发...